Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
UL
| Hyllypaikka: |
548 M742c |
|---|---|
| Nide | Not For Loan |