Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
UL
| Sygnatura: |
548 M742c |
|---|---|
| Egzemplarz | Not For Loan |