İçeriği atla
Home
Catalog
Journals
Repository
Giriş
Dil
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Ara
Gelişmiş
Characterization of epitaxial...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Favorilerime ekle
Kalıcı bağlantı
Characterization of epitaxial Semiconductor films /
Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Materyal Türü:
Kitap
Dil:
İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi:
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
Etiketler:
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Yorumlar
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:
xii, 216p.:
Benzer Materyaller
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Baskı/Yayın Bilgisi: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
Yazar:: Wei, Tongbo, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
Yazar:: Nedelcu, Nicoleta
Baskı/Yayın Bilgisi: (2023)
Our Films Their Films/
Yazar:: Ray, Satyajit
Baskı/Yayın Bilgisi: (1976)