Characterization of epitaxial Semiconductor films /
Uloženo v:
| Médium: | Kniha |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Vydáno: (2025)
Vydáno: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
Autor: Wei, Tongbo, a další
Vydáno: (2025)
Autor: Wei, Tongbo, a další
Vydáno: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
Autor: Nedelcu, Nicoleta
Vydáno: (2023)
Autor: Nedelcu, Nicoleta
Vydáno: (2023)
Our Films Their Films/
Autor: Ray, Satyajit
Vydáno: (1976)
Autor: Ray, Satyajit
Vydáno: (1976)
Encyclopedia of Materials Characterization/ Surfaces, Interfaces, Thin Films
Autor: Brundle, C. Richard
Vydáno: (1992)
Autor: Brundle, C. Richard
Vydáno: (1992)
Encyclopedia of Materials Characterization Surfaces, Interfaces, Thin Films
Autor: Brundle, C. Richard
Vydáno: (1992)
Autor: Brundle, C. Richard
Vydáno: (1992)
Semiconductors /
Autor: Wright, D. A.
Vydáno: (1966)
Autor: Wright, D. A.
Vydáno: (1966)
Optical Characterization of Microstructures and Optoelectronic Devices Based on Wide Band Gap Semiconductors
Vydáno: (2025)
Vydáno: (2025)
Biomass-based Bioplastic and Films Preparation, Characterization, and Application /
Vydáno: (2024)
Vydáno: (2024)
Film as art. /
Autor: ARNHEIM, Rudolf
Vydáno: (1958)
Autor: ARNHEIM, Rudolf
Vydáno: (1958)
Philosophy and film. /
Vydáno: (1995)
Vydáno: (1995)
Politics and film. /
Autor: FURHAMMAR, Leif
Vydáno: (1971)
Autor: FURHAMMAR, Leif
Vydáno: (1971)
Film production /
Autor: Bernstein, Steven
Vydáno: (1994)
Autor: Bernstein, Steven
Vydáno: (1994)
The Film sense
Autor: Elsenstein, Sergei M.
Autor: Elsenstein, Sergei M.
Characterizations of univariate continuous distributions
Autor: Ahsanullah, Mohammad
Vydáno: (2017)
Autor: Ahsanullah, Mohammad
Vydáno: (2017)
Handbook of thin film deposition : theory, technology and semiconductor applications /
Vydáno: (2025)
Vydáno: (2025)
Magnetic semiconductors; /
Autor: ZINN, W
Vydáno: (1976)
Autor: ZINN, W
Vydáno: (1976)
SEMICONDUCTOR DEVICES /
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
SEMICONDUCTOR DEVICES /
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
Physics of semiconductors /
Autor: Sapoval, Bernard
Vydáno: (2005)
Autor: Sapoval, Bernard
Vydáno: (2005)
Advanced Semiconductors
Vydáno: (2025)
Vydáno: (2025)
Excitons in Semiconductors
Autor: Dhar, Subhabrata
Vydáno: (2025)
Autor: Dhar, Subhabrata
Vydáno: (2025)
Semiconductor technology /
Autor: Bruk, V. A.
Vydáno: (1969)
Autor: Bruk, V. A.
Vydáno: (1969)
Solid semiconductors /
Autor: Jonscher, A. K.
Vydáno: (1965)
Autor: Jonscher, A. K.
Vydáno: (1965)
The Electrochemistry of semiconductors /
Vydáno: (1981)
Vydáno: (1981)
SEMICONDUCTOR DEVICES /
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
Autor: NAGCHOUDHURI, D.
Vydáno: (1989)
Physics of semiconductors
Autor: Sapoval, Bernard
Vydáno: (2005)
Autor: Sapoval, Bernard
Vydáno: (2005)
Laboratory Characterization of Shale Measurement and Simulation /
Autor: Sarkar, Piyush, a další
Vydáno: (2025)
Autor: Sarkar, Piyush, a další
Vydáno: (2025)
Film in Bangladesh / Alamgir kabir.
Autor: KABIR, Alamgir
Vydáno: (1979)
Autor: KABIR, Alamgir
Vydáno: (1979)
Characterization techniques in bionanocomposites : advances, challenges and applications /
Vydáno: (2024)
Vydáno: (2024)
Thermodynamics : principles characterizing physical and chemical processes
Autor: Honig, J.M
Vydáno: (1982)
Autor: Honig, J.M
Vydáno: (1982)
Remote sensing for site characterization/
Vydáno: (2000)
Vydáno: (2000)
Automation Technologies for Genome Characterization /
Autor: Beugelsdijk, Tony J.
Vydáno: (1997)
Autor: Beugelsdijk, Tony J.
Vydáno: (1997)
Automation Technology for Genome Characterization
Autor: Beugelsdijk
Vydáno: (1997)
Autor: Beugelsdijk
Vydáno: (1997)
Amorphous semiconductors. / Brodsky
Autor: BRODSKY, Marc Herbert, 1938-
Vydáno: (1979)
Autor: BRODSKY, Marc Herbert, 1938-
Vydáno: (1979)
Podobné jednotky
-
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Vydáno: (2025) -
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
Autor: Wei, Tongbo, a další
Vydáno: (2025) -
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
Vydáno: (2012) -
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
Autor: Nedelcu, Nicoleta
Vydáno: (2023) -
Our Films Their Films/
Autor: Ray, Satyajit
Vydáno: (1976)