تخطي إلى المحتوى
Home
Catalog
Journals
Repository
تسجيل الدخول
اللغة
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
ابحث
بحث متقدم
Characterization of epitaxial...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
أضف إلى المفضلة
رابط دائم
Characterization of epitaxial Semiconductor films /
محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق:
كتاب
اللغة:
الإنجليزية
منشور في:
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
الوسوم:
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المقتنيات
الوصف
التعليقات
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
كن أول من يترك تعليقا!
تعليقك
يجب تسجيل دخولك أولا
مواد مشابهة
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
منشور في: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
حسب: Wei, Tongbo, وآخرون
منشور في: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
منشور في: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
حسب: Nedelcu, Nicoleta
منشور في: (2023)
Our Films Their Films/
حسب: Ray, Satyajit
منشور في: (1976)