इसे छोड़कर सामग्री पर बढ़ने के लिए
Home
Catalog
Journals
Repository
लॉग इन करें
भाषा
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
सभी फ़ील्ड्स
शीर्षक
लेखक
विषय
बोधानक
आईएसबीएन / आईएसएसएन
खोज
उन्नत
Characterization of epitaxial...
इसे उद्धृत करें
इसका टेक्स्ट मैसेज भेजे
इसे ईमेल करें
प्रिंट
सूची में सहेजें
स्थायी लिंक
Characterization of epitaxial Semiconductor films /
में बचाया:
ग्रंथसूची विवरण
स्वरूप:
पुस्तक
भाषा:
अंग्रेज़ी
प्रकाशित:
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
टैग:
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
होल्डिंग्स
विवरण
टिप्पणियाँ
समान संसाधन
स्टाफ के लिए
टिप्पणी देने वाले पहले व्यक्ति बनें!
आपकी टिप्पणी
आपको पहले लॉग इन होना चाहिए
समान संसाधन
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
प्रकाशित: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
द्वारा: Wei, Tongbo, और अन्य
प्रकाशित: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
प्रकाशित: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
द्वारा: Nedelcu, Nicoleta
प्रकाशित: (2023)
Our Films Their Films/
द्वारा: Ray, Satyajit
प्रकाशित: (1976)