Skip to content
Home
Catalog
Journals
Repository
Prijava
Jezik
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Išči
Napredno
Characterization of epitaxial...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Dodaj v priljubljene
Permanent link
Characterization of epitaxial Semiconductor films /
Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Format:
Knjiga
Jezik:
angleščina
Izdano:
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
Oznake:
Označite
Brez oznak, prvi označite!
Zaloga
Opis
Komentarji
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Komentirajte kot prvi!
Vaš komentar
Najprej se morate prijaviti
Podobne knjige/članki
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Izdano: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
od: Wei, Tongbo, et al.
Izdano: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
Izdano: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
od: Nedelcu, Nicoleta
Izdano: (2023)
Our Films Their Films/
od: Ray, Satyajit
Izdano: (1976)
