Characterization of epitaxial Semiconductor films /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Amsterdam : Elsevier, 1976.
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

UL

Saatavuus: UL
Hyllypaikka: 530.41 K920c
Nide 1976 Not For Loan