Skip to content
Home
Catalog
Journals
Repository
כניסה לחשבון
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
מצא
מתקדם
Characterization of epitaxial...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
הוספה למועדפים
Permanent link
Characterization of epitaxial Semiconductor films /
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
פורמט:
ספר
שפה:
אנגלית
יצא לאור:
Amsterdam :
Elsevier,
1976.
תגים:
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
מלאי ספרים
תיאור
הערות
פריטים דומים
תצוגת צוות
UL
פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום:
530.41 K920c
עותק 1976
Not For Loan
פריטים דומים
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
יצא לאור: (2025)
Quasi van der Waals Epitaxy of Nitride Semiconductor and Its Applications
מאת: Wei, Tongbo, et al.
יצא לאור: (2025)
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
יצא לאור: (2012)
Thin Films Processes and Characterization Techniques /
מאת: Nedelcu, Nicoleta
יצא לאור: (2023)
Our Films Their Films/
מאת: Ray, Satyajit
יצא לאור: (1976)