Characterization of epitaxial Semiconductor films /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Format: Knjiga
Jezik:engleski
Izdano: Amsterdam : Elsevier, 1976.
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

UL

Detalji primjeraka od UL
Signatura: 530.41 K920c
Primjerak 1976 Not For Loan