Skip to content
Home
Catalog
Journals
Repository
Prijava
Jezik
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Išči
Napredno
Applied scanning probe methods...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Dodaj v priljubljene
Permanent link
Applied scanning probe methods XI:scanning probe microscopy techniques
Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:
Bhushan, Bharat
Format:
Knjiga
Izdano:
Heidelberg
Springer
c2009
Teme:
Scanning system
Oznake:
Označite
Brez oznak, prvi označite!
Zaloga
Opis
Komentarji
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Komentirajte kot prvi!
Vaš komentar
Najprej se morate prijaviti
Podobne knjige/članki
Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications
od: Wiesendanger, Roland, 1961-
Izdano: (1994)
Applied Scanning Probe Methods IX/ Characterization
od: Bhushan, Bharat
Izdano: (2008)
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization
od: Bhushan, Bharat
Izdano: (2008)
Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization /
od: Bhushan, Bharat
Izdano: (2008)
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization
od: Bhushan, Bharat
Izdano: (2008)