Multiple-beam interferomrtry of surfaces and films.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: TOLANSKY, S.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: New Work, Dover; 1970.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Opis
Opis fizyczny:vi, 186p.
Bibliografia:Includes Index