X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Lee, Myeongkyu
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Boca Raton : CRc press, C2016.
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תיאור פיזי:xii, 282p. : ill. ; 22cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliography & index .
ISBN:9781771882996