X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Lee, Myeongkyu
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Boca Raton : CRc press, C2016.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Opis
Opis fizyczny:xii, 282p. : ill. ; 22cm.
Bibliografia:Includes bibliography & index .
ISBN:9781771882996