X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Lee, Myeongkyu
Формат: ‌
Язык:английский
Опубликовано: Boca Raton : CRc press, C2016.
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Объем:xii, 282p. : ill. ; 22cm.
Библиография:Includes bibliography & index .
ISBN:9781771882996