X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Lee, Myeongkyu
Формат: Книга
Мова:Англійська
Опубліковано: Boca Raton : CRc press, C2016.
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Опис
Фізичний опис:xii, 282p. : ill. ; 22cm.
Бібліографія:Includes bibliography & index .
ISBN:9781771882996