X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Lee, Myeongkyu
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Boca Raton : CRc press, C2016.
Aiheet:
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

UL

Saatavuus: UL
Hyllypaikka: 620.11272 M479x
Nide 2016 Not For Loan