X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Lee, Myeongkyu
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Boca Raton : CRc press, C2016.
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!