X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Lee, Myeongkyu
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Boca Raton : CRc press, C2016.
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 620.11272 M479x
עותק 2016 Not For Loan