X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Lee, Myeongkyu
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Boca Raton : CRc press, C2016.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 620.11272 M479x
Egzemplarz 2016 Not For Loan