X- ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Lee, Myeongkyu
Format: Knjiga
Jezik:angleščina
Izdano: Boca Raton : CRc press, C2016.
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 620.11272 M479x
Kopija 2016 Not For Loan