Semiconductor measurements and instrumentation /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Runyan , W. R.
Format: Knjiga
Jezik:angleščina
Izdano: New York : Mc Graw Hill , C1975 .
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!

MARC

LEADER 00000nam a22000007a 4500
001 79524
003 BD-SaJUCL
005 20260412085613.0
008 260410b |||||||| |||| 00| 0 eng d
040 |a BD-SaJUCL  |c BD-SaJUCL  |d BD-SaJUCL 
082 |a 621.38152  |b R943s 
100 |a Runyan , W. R.  |9 52096 
245 |a Semiconductor measurements and instrumentation /  |c W. R. Runyan . 
260 |a New York :   |b Mc Graw Hill ,  |c C1975 . 
300 |a vii, 280p.  
650 |a Semiconductors  |9 52097 
942 |2 ddc  |c BK  |n 1 
999 |c 79524  |d 79518