Positron Profilometry Probing Material Depths for Enhanced Understanding /

This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the analysis of defect depth distribution in materials. Positron profilometry plays a crucial role in understanding and characterizing defects in a wide range of materials, including metals, semiconductors...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Dryzek, Jerzy (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Cham : Springer Nature Switzerland : Imprint: Springer, 2023.
Edición:1st ed. 2023.
Colección:SpringerBriefs in Materials,
Materias:
Acceso en línea:https://doi.org/10.1007/978-3-031-41093-2
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares