Positron Profilometry Probing Material Depths for Enhanced Understanding /

This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the analysis of defect depth distribution in materials. Positron profilometry plays a crucial role in understanding and characterizing defects in a wide range of materials, including metals, semiconductors...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Dryzek, Jerzy (Autore)
Ente Autore: SpringerLink (Online service)
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: Cham : Springer Nature Switzerland : Imprint: Springer, 2023.
Edizione:1st ed. 2023.
Serie:SpringerBriefs in Materials,
Soggetti:
Accesso online:https://doi.org/10.1007/978-3-031-41093-2
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!