Recent Advances in Microelectronics Reliability Contributions from the European ECSEL JU project iRel40 /
This book describes the latest progress in reliability analysis of microelectronic products. The content grows out of an EU project, named Intelligent Reliability 4.0 - iRel40 (see www.irel40.eu ). Different industrial sectors and topics are covered, such as electronics in automotive, rail transport...
Bewaard in:
| Coauteur: | SpringerLink (Online service) |
|---|---|
| Andere auteurs: | van Driel, Willem Dirk (Redacteur), Pressel, Klaus (Redacteur), Soyturk, Mujdat (Redacteur) |
| Formaat: | Elektronisch E-boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Cham :
Springer International Publishing : Imprint: Springer,
2024.
|
| Editie: | 1st ed. 2024. |
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | https://doi.org/10.1007/978-3-031-59361-1 |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
door: Raji, Mohsen, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Raji, Mohsen, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Analog Microelectronics
door: Borgarino, Mattia
Gepubliceerd in: (2025)
door: Borgarino, Mattia
Gepubliceerd in: (2025)
GaN Technology Materials, Manufacturing, Devices and Design for Power Conversion /
Gepubliceerd in: (2024)
Gepubliceerd in: (2024)
SiC Technology Materials, Manufacturing, Devices and Design for Power Conversion /
Gepubliceerd in: (2024)
Gepubliceerd in: (2024)
Hardware Security Training, Hands-on!
door: Tehranipoor, Mark, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Tehranipoor, Mark, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Gepubliceerd in: (2023)
Gepubliceerd in: (2023)
Quality-of-Service Aware Design and Management of Embedded Mixed-Criticality Systems
door: Ranjbar, Behnaz, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: Ranjbar, Behnaz, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Hardware Security: Challenges and Solutions
Gepubliceerd in: (2025)
Gepubliceerd in: (2025)
Graphs in VLSI
door: Bairamkulov, Rassul, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Bairamkulov, Rassul, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Frontiers of Quality Electronic Design (QED) AI, IoT and Hardware Security /
Gepubliceerd in: (2023)
Gepubliceerd in: (2023)
Hardware Security Primitives
door: Tehranipoor, Mark, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Tehranipoor, Mark, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Understanding Logic Locking
door: Zamiri Azar, Kimia, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: Zamiri Azar, Kimia, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Enhanced Virtual Prototyping for Heterogeneous Systems
door: Hassan, Muhammad, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Hassan, Muhammad, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
CMOS Plasma and Process Damage
door: Prall, Kirk
Gepubliceerd in: (2025)
door: Prall, Kirk
Gepubliceerd in: (2025)
Analog and Mixed-Signal Circuits in Nanoscale CMOS
Gepubliceerd in: (2023)
Gepubliceerd in: (2023)
Differentiated Layout Styles for MOSFETs Electrical Behavior in Harsh Environments /
door: Gimenez, Salvador Pinillos, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Gimenez, Salvador Pinillos, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Security of FPGA-Accelerated Cloud Computing Environments
Gepubliceerd in: (2024)
Gepubliceerd in: (2024)
Single-Photon Avalanche Diodes and Photon Counting Systems From Phototransduction to Circuit Architecture /
door: Dandin, Marc, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: Dandin, Marc, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
Microelectronics /
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
Microelectronics /
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
Microelectronics /
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
Silicon Components and Processes Self Study Rectifying and Ohmic Contacts, Bipolar Junction Transistors /
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
More-than-Moore Devices and Integration for Semiconductors
Gepubliceerd in: (2023)
Gepubliceerd in: (2023)
Basic Electronic Circuits Problems and Solutions /
door: Vasudevan, K.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Vasudevan, K.
Gepubliceerd in: (2023)
Silicon Components and Processes Self Study Properties of Silicon Crystals and PN Junctions /
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Passive and Active Circuits by Example
door: Yuce, Erkan, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: Yuce, Erkan, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Silicon Components and Processes Self Study Unit Processes and Process Integration /
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Silicon Components and Processes Self Study Field-Effect Transistors /
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
Silicon Components and Processes Self Study Integrated High-Voltage Transistors and Passive Components /
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: El-Kareh, Badih, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Quantum Computing Circuits, Systems, Automation and Applications /
Gepubliceerd in: (2024)
Gepubliceerd in: (2024)
SOC-Based Solutions in Emerging Application Domains
door: Chakravarthi, Veena S., et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: Chakravarthi, Veena S., et al.
Gepubliceerd in: (2025)
Logic Locking A Practical Approach to Secure Hardware /
door: Sisejkovic, Dominik, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
door: Sisejkovic, Dominik, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Hybrid Bonding, Advanced Substrates, Failure Mechanisms, and Thermal Management for Chiplets and Heterogeneous Integration
door: Lau, John, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: Lau, John, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
A Concise Encyclopedia of Additive Manufacturing
door: Kumar, Sanjay
Gepubliceerd in: (2025)
door: Kumar, Sanjay
Gepubliceerd in: (2025)
Advanced Boolean Techniques Selected Papers from the 15th International Workshop on Boolean Problems /
Gepubliceerd in: (2023)
Gepubliceerd in: (2023)
Bulk-Driven Circuit Techniques for CMOS FDSOI Processes From Circuit Concept to Implementations /
Gepubliceerd in: (2025)
Gepubliceerd in: (2025)
Electronic Materials Innovations and Reliability in Advanced Memory Packaging
door: Gan, Chong Leong, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: Gan, Chong Leong, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
Microelectronics /
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
door: Millman, Jacob
Gepubliceerd in: (1987)
CMOS-based Portable NMR/MRI Microsystems
door: Fan, Shuhao, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
door: Fan, Shuhao, et al.
Gepubliceerd in: (2025)
Chip-Scale Power Supplies for DC-Link and Grid Applications
door: Rindfleisch, Christoph, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
door: Rindfleisch, Christoph, et al.
Gepubliceerd in: (2024)
Gelijkaardige items
-
Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
door: Raji, Mohsen, et al.
Gepubliceerd in: (2023) -
Analog Microelectronics
door: Borgarino, Mattia
Gepubliceerd in: (2025) -
GaN Technology Materials, Manufacturing, Devices and Design for Power Conversion /
Gepubliceerd in: (2024) -
SiC Technology Materials, Manufacturing, Devices and Design for Power Conversion /
Gepubliceerd in: (2024) -
Hardware Security Training, Hands-on!
door: Tehranipoor, Mark, et al.
Gepubliceerd in: (2023)