Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Berlin:
Springer,
c2008.
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| Edición: | 1st ed. |
| Colección: | NanoScience and Technology
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| Materias: | |
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