Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization /
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Drugi avtorji: | |
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | angleščina |
| Izdano: |
Berlin:
Springer,
c2008.
|
| Izdaja: | 1st ed. |
| Serija: | NanoScience and Technology
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
Search Result 1
Search Result 2
Search Result 3