Applied Scanning Probe Methods IX/ Characterization
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Berlin:
Springer,
c2008.
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | JU-IMPORT-001420 | ||
| 003 | BD-SaJUCL | ||
| 005 | 20260915021840.0 | ||
| 008 | 260915s2008 xx 000 0 eng d | ||
| 040 | |a BD-SaJUCL |b eng |c BD-SaJUCL |e rda | ||
| 100 | 1 | |a Bhushan, Bharat | |
| 700 | 1 | |a Fuchs, Harald | |
| 245 | 1 | 0 | |a Applied Scanning Probe Methods IX/ |b Characterization |c edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori |
| 264 | 1 | |a Berlin: |b Springer, |c c2008. | |
| 300 | |a 362p. | ||
| 504 | |a Includes bibliographical references and index. | ||
| 650 | 0 | |a Scanning probe microscopy | |
| 650 | 0 | |a Nanotechnology | |
| 650 | 0 | |a Surface analysis | |
| 020 | |a 9783540740827 | ||
| 082 | 0 | 4 | |a 502.82 |b B57 |2 23 |
| 942 | |c BK |n 0 | ||
| 999 | |c 94229 |d 94223 | ||