Encyclopedia of Materials Characterization/ Surfaces, Interfaces, Thin Films

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Brundle, C. Richard
Altri autori: Evans, Charles A., Jr
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Stoneham, MA: Butterworth-Heinemann, c1992.
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 i 4500
001 JU-IMPORT-001440
003 BD-SaJUCL
005 20260915021840.0
008 260915s1992 xx 000 0 eng d
040 |a BD-SaJUCL  |b eng  |c BD-SaJUCL  |e rda 
100 1 |a Brundle, C. Richard 
700 1 |a Evans, Charles A., Jr. 
245 1 0 |a Encyclopedia of Materials Characterization/  |b Surfaces, Interfaces, Thin Films  |c C. Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr., Shaun Wilson 
264 1 |a Stoneham, MA:  |b Butterworth-Heinemann,  |c c1992. 
300 |a 751p. 
504 |a Includes bibliographical references. 
650 0 |a Materials science 
650 0 |a Surfaces (Technology)--Analysis 
650 0 |a Thin films 
020 |a 9780750691680 
082 0 4 |a 620.112  |b B89  |2 23 
942 |c BK  |n 0 
999 |c 94249  |d 94243