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Surface Analysis with STM and AFM: Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis/

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Magonov, Sergei N.
Weitere Verfasser:	Whangbo, Myung-Hwan
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Weinheim: VCH, c1996
Schlagworte:	Scanning tunneling microscopy Atomic force microscopy Surface analysis
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