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Applied Scanning Probe Methods IX Characterization
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保存先:
書誌詳細
第一著者:
Bhushan, Bharat
フォーマット:
図書
言語:
英語
出版事項:
Berlin
Springer
c2008
版:
1st ed
主題:
Scanning probe microscopy
Surfaces (Technology)
>
Analysis
Nanotechnology
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その他の書誌記述
物理的記述:
xvi, 387p
書誌:
Includes bibliographical references and index
ISBN:
9783540740834
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