Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Bhushan, Bharat
Formato:	Libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Berlin Springer c2008
Edición:	1st ed
Materias:	Scanning probe microscopy Surfaces (Technology) > Analysis Nanotechnology
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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