Omslagsbillede

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

Show other versions (3)
Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Bhushan, Bharat
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Berlin Springer c2008
Udgivelse:1st ed
Fag:
Scanning probe microscopy
Surfaces (Technology) > Analysis
Nanotechnology
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Search Result 1
Omslagsbillede

Applied Scanning Probe Methods IX/ Characterization af Bhushan, Bharat

Udgivet 2008
Bog
Source: Springer Nature JU Central Library

Føj til favoritter
Saved in:
Search Result 2
Omslagsbillede

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization / af Bhushan, Bharat

Udgivet 2008
Bog
Source: Springer Nature JU Central Library

Føj til favoritter
Saved in:
Search Result 3
Omslagsbillede

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization af Bhushan, Bharat

Udgivet 2008
Bog
Source: Springer Nature JU Central Library

Føj til favoritter
Saved in:
Show all versions (4)

Lignende værker