תמונות העטיפה

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

Show other versions (3)
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Bhushan, Bharat
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Berlin Springer c2008
נושאים:
Scanning probe microscopy
Nanotechnology
Surface analysis
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תיאור פיזי:362p
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and index
ISBN:978-3-540-74082-7

פריטים דומים