Applied logistic regression/

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Hosmer, David W
Autres auteurs: Lemeshow, Stanley
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: New York: John Wiley, c1989.
Collection:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
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Description
Description:"A Wiley-Interscience Publication".
Description matérielle:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliographie:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.