Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.