Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিBowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিBowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.