Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Citace podle Chicago (17th ed.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
Citace podle MLA (9th ed.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..