Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
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