Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.