Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Chicago-viite (17. p.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
MLA-viite (9. p.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.