Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Style de citation Chicago (17e éd.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
Style de citation MLA (9e éd.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.