Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..