Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
Цитирование MLA (9-е изд.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.