Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.
Chicago-referens (17:e uppl.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.
MLA-referens (9:e uppl.)Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.