Стиль цитування APA (7-ме видання)

Bowen, D. K. (1998). High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. London: Taylor & Francis, 1998.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Bowen, D. Keith. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. Taylor & Francis, 1998.