High resolution X-ray diffractometry and topography/
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Descripció física: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |