High resolution X-ray diffractometry and topography/
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
| Fyzický popis: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Bibliografie: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |