High resolution X-ray diffractometry and topography/

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Bowen, D. Keith
Fformat: Llyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: London: Taylor & Francis, c1998
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Disgrifiad
Disgrifiad Corfforoll:x, 252p. ill., 24cm
Llyfryddiaeth:Includes bibliographical reference and index
ISBN:085067585