High resolution X-ray diffractometry and topography/

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Bowen, D. Keith
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: London: Taylor & Francis, c1998
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Beskrivelse
Fysisk beskrivelse:x, 252p. ill., 24cm
Bibliografi:Includes bibliographical reference and index
ISBN:085067585